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Low-Temperature ALD of SbOx/Sb2Te3 Multilayers with Boosted Thermoelectric Performance
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Identity verification using palm print microscopic images based on median robust extended local binary pattern features and k‐nearest neighbor classifier
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Type
Work
2
Tipo di risorsa
Article
1
Research Paper
1
Creatore
Axel Lubk
1
Bahaj, Saeed Ali
1
Fabian Krahl
1
Harouni, Majid
1
Jochen Geck
1
altri
Creatores
»
Contributor
Artificial Intelligence and Data Analytics Research Lab (AIDA) CCIS Prince Sultan University, Riyadh, Saudi Arabia.
1
Nano Micro Small
1
Parola chiave
Atomic layer deposition
1
Binary pattern
1
Interface engineering
1
Legal identity for all
1
Local Descriptors
1
altri
Parola chiaves
»
Soggetto
Artificial Intelligence
1
Data Science
1
Engineering
1
Lingua
English
1
luogo
United States
1
Editore
Wiley
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2
Collezione
Jio Institute Research Publication Archive
2