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Low-Temperature ALD of SbOx/Sb2Te3 Multilayers with Boosted Thermoelectric Performance
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Identity verification using palm print microscopic images based on median robust extended local binary pattern features and k‐nearest neighbor classifier
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Type
Work
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Type de ressource
Article
1
Research Paper
1
Créateur
Axel Lubk
1
Bahaj, Saeed Ali
1
Fabian Krahl
1
Harouni, Majid
1
Jochen Geck
1
plus
Créateurs
»
Contributor
Artificial Intelligence and Data Analytics Research Lab (AIDA) CCIS Prince Sultan University, Riyadh, Saudi Arabia.
1
Nano Micro Small
1
Mot-clé
Atomic layer deposition
1
Binary pattern
1
Interface engineering
1
Legal identity for all
1
Local Descriptors
1
plus
Mot-clés
»
Assujettir
Artificial Intelligence
1
Data Science
1
Engineering
1
La langue
English
1
Emplacement
United States
1
Éditeur
Wiley
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2
Collection
Jio Institute Research Publication Archive
2